知行合一，动作要快，这关乎质量成本！

要在确保高品质的同时兼顾成本效益，有效的质量保证活动是关键。对于薄膜制造和镀膜工业来说尤其是这样，覆膜厚度的变动或均匀性有可能导致产品质量问题，原料得不到有效利用，进而使成本上升。

通过快速抽样掌握工艺知识

全面的综合测试当然是唯一可信赖的方法，但采用这种方法必须以不降低生产效率而导致成本飙升为前提条件。

ETA团队，如今是NXT的子公司，自1991年就开始致力于研发和推广用于工业和实验室的光谱测量解决方案，因其功能全面和高性价比，成为平板显示器、精密玻璃、半导体，包装材料和镀膜工业等众多领先的研发机构和制造商的首选。我们的关键技术和部件均由内部研发工程师团队设计和制造。我们的目标是为客户的测量需求提供最尖端的解决方案。凭借卓越技术和优良产品性能，并在研发前与客户密切合作，以及遍及世界各地的销售服务团队，使NXT成为通过提高系统性测量提高质量、稳定工艺、降低成本的首选品牌。

可信结果来源于精度和稳定性

ETA光谱测量系统按照极高的标准精工制造，每一只光谱仪均使用可溯源的标准光源进行光谱校准。任何一只光谱仪均可精确再现所有的原子谱线。

反射率、透光率和吸光率的测光精度均来源于各种可溯源的参考标准，譬如硅片、精密玻璃和滤光片。

测量的精度和稳定性是同等重要的。我们的测量系统可同时适应静态和动态测量环境。对于在线测量来说，这可是非常有难度的事情！而我们的测量系统可在确保测量速度同时，容许测试对象有位置上的变化（倾斜和高度），成为生产线过程监测的理想选择。

我们用卓越的测量技术来契合质量保证的真谛。快速测量和稳固的光学几何确保了测量的精度，实现对工艺过程全面而及时的反馈。主流的ETA光谱测量产品包括用于离线测量和实验室应用的ETA-SST和ETA-CSS，以及用于在线质量保证的ETA-TCM系列。这些产品即可以单独使用，也可以协同一起成为各应用领域研发者、制造者可靠的测量基础。

了解镀膜厚度分布均匀性的真实情况对于实现可靠的质量保证非常重要。ETA测量系统所具备的速度可确保足够高的取样频率，以快速而完整的测量消除原材料浪费和镀膜废品。

吸光率测量稳定性：在同一点上连续1000次测量结果。

色度测量稳定性：Y值（xyY色彩空间），同一测量位置连续1000次测量结果。

薄膜应用系列测量系统产品样本下载：

● ETA-TCM-R： 在线反射率和膜厚测量系统

● ETA-TCM-T： 在线透光率和膜厚测量系统

● ETA-TCM-OD：在线光密度测量系统

■ ETA-SST：离线反射率和膜厚测量系统

■ ETA-CSS：离线透射率和颜色测量系统